製品・技術・サービス概要

JIS Z8827-1 静的画像解析法に準拠した粒子径画像解析ソフトウェア Mac-View。粉体の解析と管理に特化した汎用的ソフトウェアのため，SEM，TEMだけでなく，あらゆる粉体のデジタル画像データが使用可能です。画像さえあれば高額な設備投資は一切不要で，凝集粒子の１次粒子径の評価や，ナノ粒子の解析も実施出来ます。

製品の特徴

• ナノ粒子の評価
  画像データにスケール情報があれば粒子径を問わず解析が可能です。
• 凝集粒子の１次粒子径の解析
  ソフトウェア上で使用可能な多数の粒子認識ツールを応用し，従来困難であった凝集粒子の１次粒子径評価も可能です。
• 多角的な解析と評価
  粒度分布の自動計測，粒子形状（円形度係数やアスペクト比など）の数値化が可能です。
• ソフトウェアの操作に特別な知識は不要
  解析作業にオペレータの習熟度を問いません。
• 高額な設備投資は不要
  デジタル画像データ（jpg, bmp）があれば，PCにソフトウェアをインストール後，すぐに解析を開始出来ます。